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Keysight E4980AL 精密 LCR 表为各种元器件测量提供准确度、速度和多功能性。Agilent E4980AL 表在低阻抗和高阻抗范围内提供快速的测量速度和出色的性能,非常适合一般研发以
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Keysight E4980AL 精密 LCR 表为各种元器件测量提供准确度、速度和多功能性。Agilent E4980AL 表在低阻抗和高阻抗范围内提供快速的测量速度和出色的性能,非常适合一般研发以及元器件和材料的制造测试。
Keysight E4980AL(安捷伦)精密 LCR 表的特性和技术指标包括:
特征:
行业标准 LCR 表
支持适用于多种应用的各种附件
自动电平控制
直流电阻
201分榜扫
多功能 PC 连接、LAN、USB 和 GPIB,增强了设计
可升级性(频率、处理器接口、扫描仪接口)
规格:
频率:
20 Hz 至 300 kHz/500 kHz/1 MHz,在任何范围内具有 4 位分辨率
基本精度:0.05% 基本精度,在低阻抗和高阻抗下具有出色的测量可重复性
可变测试信号:100 uV 至 2 Vrms,1 uA 至 20 mA
直流偏置:1.5/2 V
触发延迟时间:
范围:0 秒 - 999 秒
分辨率:100 μs (0 s - 100 s)
停止延迟时间:
范围:0 秒 - 999 秒
解决:
100 微秒(0 秒 - 100 秒)
1毫秒(100 秒 - 999 秒)
测量端子:四端子对
测试电缆长度:0m、1m、2m、4m
测量时间模式:短模式、中模式、长模式
平均:
范围:1 - 256 次测量
分辨率:1
测试信号
测试频率:20 Hz - 2 MHz
分辨率:0.01 赫兹(20 赫兹 - 99.99 赫兹)
测量精度:±0.01%
测试信号模式:
正常:分别在测量端子开路或短路时编程选定的电压或电流
恒定:保持被测设备 (DUT) 的选定电压或电流,而不受 DUT 阻抗变化的影响
信号电平:
测试信号电压:
范围:0 Vrms - 2.0 Vrms
解决:
100 μVrms (0 Vrms - 0.2 Vrms)
200 μVrms (0.2 Vrms - 0.5 Vrms)
500 μVrms (0.5 Vrms - 1 Vrms)
1 mVrms (1 Vrms - 2 Vrms)
准确性:
普通的:
±(10% + 1 mVrms):
测试频率 ≤ 1 MHz:规范。
测试频率 > 1 MHz:典型值。
常量(自动电平控制功能开启时):
±(6% + 1 mVrms):
测试频率 ≤ 1 MHz:规范。
测试频率 > 1 MHz:典型值。
测试信号电流:
范围:0 Arms - 20 mArms
解决:
1 μArms(0 Arms - 2 mArms)
2 μArms(2 mArms - 5 mArms)
5 μArms(5 mArms - 10 mArms)
10 μArms(10 mArms - 20 mArms)
准确性:
普通的:
±(10% + 10 μArms):
测试频率 ≤ 1 MHz:规范。
测试频率 > 1 MHz:典型值。
常量(自动电平控制功能开启时):
±(6% + 10 μArms):
测试频率 ≤ 1 MHz:规范。
测试频率 > 1 MHz:典型值。
输出阻抗:100 Ω(标称值)
测试信号电平监控功能:可监控测试信号电压和测试信号电流
能量源:
电压:90 VAC - 264 VAC
频率:47 赫兹 - 63 赫兹
功耗:最大。150伏安
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